PLD-MPCS2.0电子半导体清洁度分析系统 计数器

电子半导体清洁度分析系统 计数器是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段。

电子半导体清洁度分析系统 计数器-优势：

测试软件具有审计追踪、权限管控、电子记录、测试标准、计量验证、报告模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能；

全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数，或按用户设定范围计数，自动显示分析结果，并按照相关标准确定产品等级；

将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物；

软件控制分析过程，手动对焦，手动光强（颗粒清洁度测试必须人为干预进行），自动扫描，自动摄入，自动分析；

数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描；全自动膜片扫描系统，无缝拼接，数字化显微镜分析系统；

R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统；

颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析；

引入3D遥感三维调控技术，快速定位，快速聚焦，体验极速无卡顿测试。

显示器及打印机输出分析结果；

直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点；

避免激光法的产品缺陷，扩展检测范围；

现实NAS、ISO等标准方法的认可；

提供行业*的“OIL17服务星"签约式服务；

电子半导体清洁度分析系统 计数器-应用：

航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域；

对各类固体粉末、各类液体中的固体颗粒（非连续相测试）。

执行标准：

0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率。

可根据客户要求，植入相应“图像法颗粒度"测试和评判标准。

技术参数：

产品型号：PLD-MPCS2.0

订制要求：各类液体检测要求；

测试范围:  1μm-500μm

放大倍数：40X～l000X倍

zui大分辨：0.1μm

显微镜误差：0.02（不包含样品制备因素造成的误差）

重复性误差：< 5%（不包含样品制备因素造成的误差）

数字摄像头(CCD)：500万~1800万像素

分析项目：粒度分布、长径比分布、圆形度分布等

自动分割速度：< 1秒

分割成功率：> 93%

软件运行环境：Windows 10

接口方式：RS232或USB方式

精 确 度：<±3% 典型值；

重合精度：10000粒/mL（5%重合误差）；

分 辨 率：>95%

售后服务：普洛帝中国服务中心/普研检测。