高速寿命试验装置

采用双层圆筒构造和*的空调方式，解决了自然对流式的结露，水滴落下的难题。
通过缓降压，排气，排水机构，控制避免试验结束后压力、温度的急变，保证试验结果的正确。
标准装备有12销针的试验样品信号施加端子，可以根据需要增加销针的数量。
内置10升容量供水箱，自动供给一次试验所需的加湿水。
箱门采用按钮式，试验中自动上锁，安全可靠。
具备万一发生故障时也可以保护试验样品的试样电源控制端子。

加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受*的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。
注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)
中华锅炉协会压力容器安全检查合格

圆形横置式内槽结构设计方便使用者取置待测品

马达驱动磁性风扇机构循环(温度 / 湿度分布均匀佳)

安全程序自动停机,自动泄压,自动破真空,自动给水

HAST设备本体材质SUS#316,外部包装材质SUS#304

圆型测试槽与安全门环扣结构设计 

电磁风扇马达循环装置湿度分布均匀 

本体与主要进水管件SUS#316 材质

时序插座与BIOS 纯银导线20 PIN 

饱和或不饱和可程控模式 

温度 / 湿度 / 湿球 / 温度 / 压力 / 电压显示

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