西林电桥介电常数测试仪

差 36，/e， 可由下式得到，试验池的准备应用-种或几种合适的溶剂来清洗试验盖，或用不含有不稳定化合物的溶剂多次清洗。可以通过化学试验方法检直其纯度，或通过 个已知的低电容率和介质损耗因数的液体试样测量的结果来确定。当试验池试验几种类型的绝缘液体时，若单独使用溶剂不能去除污物，可用一种柔和的擦净剂和水来清出试检池的表面。若使用-系列溶剂清洗时则醉后要用醉大沸店低于100℃的分析级的石油匮来再次请洗，或者用任一种对一个已知低电容率和介质损耗因数的液体侧量能给出正确值的溶剂来清洗，并且这种溶剂在化学性质上与被试液体应是相似的。*使用下述方法进行清洗。

IEC 60247∶1978 液体绝缘材料相对电容率，介质报耗因数和直流电阻率的测量 术语和定义下列术语和定义适用于本标准。阴极蒸发或高真空蒸发金属电极假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。 

汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。ε=Cx×h/0.08854÷A C）的井联电降粪柔，并职等值电路m-=Cg- ……4?)相对电容率relative permittivity E。

C---并联电容;路--并联电阻。装置成套影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、温度和电气强度对介电性能的影响。

电极的选择板状试样考虑下面两点很重要，。） 不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触面引起的误差， b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差 小h/所引起的相对电容率的相对误下易形成一层虫绝线的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔. 烧熔金属电极（f）介电常数（ε）的计算高电容率的管状试样，其内电极相外电极明以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。大直径的管状或圈筒形试样，其电极系统可以是圆形或矩形的搭接，并且只对管的部分圆周进行试验。这种试样可按板状试样对待，金属馆、沉积金属膜或配合较好的金属芯轴内电极与金属筒或沉积金属膜的外电极和保扩电极 起使用。如采用金属情做内电极，为了保证电授和试闸之间的良好接触，需在管内采用一个弹性的可膨胀的夹具。

Cx---放入样片后的电容量  单位（PF）伍德合金和其他低熔点合金能代替泵。但是这些合金通常含有镉，偶象果一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。 

损耗角δ的正E切。喷罐金属电极本标准中的计算和测量是根据电流（w=2x ）正弦波形作出的。

Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容; C 真空中电容器的电极电容。式（9），（10）、（11）中，C2，R，C，R，tmz同式（7），（8）。性;强度剖量着影响常常发生在 1xMHz以卜发破表质率范围内。

试验电极 一套c,- R-1np年-..s(10)R。=—………………………( 11)*C,R-acR式中∶---复相对电容率， t，-—-损耗指数;、，-—-相对电容率 tuano---介质损耗因数法，有模耗韵电容器在任何输定的频率下能用电存C.和电阻R，的率积电路表示，成用电市G，和电题R，（或电等电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容C。与同排电段构形的真空电容C。之比∶ .-3.....武申∶，——-相对电容率;

A=1/4πd2无论申联表示法还是井联表示法，其介重相耗固着 un显相等的。报如测量电路依据中联元件来产生结果，且ur8太大雨在式（9中不能被温略，则在计算电容赏必须先计置排联电容，由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角，介质损耗因数 dielectrie sspationfhctur anb

测试线二根在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。 

电源线一根凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包指勘误的内容）或修订取均不适用十本标准，然向，鼓励根据本标准达战协议的各方错死是否可使用这些文件的醉新版本。凡是不注日期的引用文件.其醉新板本适用于本标准。 

极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率，介质损耗因致和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。C。-—申联电容; R—-—-单颗电烈和电题 R。的率联电路来表示。

满足上述要求的试验施见图2～图4。电极是不锈钢的，用疆硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘。A --测试电极的表面积  单位（dm2）电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，醉重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均勺性导致的界面级化所引起的。

测试电极的直径为5cm时，A=19.6cm2在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率c，等于1.00053。因此，用这种电极构形在空气中的电容C，来代替 C。测量相对电容率ε，时，也有足够的晶确度。

es= 0.088 54 pF/em介质损耗角 dhectrtk hmsgk试验池应全部拆开，*地消洗各部件，用溶剂回流的方法或放在木使用溶剂中搅动反复洗保方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干 30 min。待试验池的各部件冷却到室温，再重新装配起来。池内应注入一些待试的液体.停几分钟婚，倒出在上述各步骤中，各部件可用干净的针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效韵内表面不与手接触。

妃熔金属电极适用于教璃、云母和陶瓷等材料，银是背遍使用的，但是在病温或病醚下，醉好采用金，率联元件与并联元样之网，波立下列关系，在测定电容率需要较高晶度时，醉大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应是够大，以满足测量所需要的晶确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的晶确度来讲，1.5 mm的厚度就足够了，但是对于更高晶确度，醉好是采用较厚的试样，侧如 6mm~12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满是晶度要求的试样电容。测量10F的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为 10 cm 或更大些显然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝峻材料通靠鼻合活的，但存单一新率下，有时出需要以电容C。

电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数醉大值的大小和位置也随此翻变，在 SI制中，决对电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数t为。-8.854×10-识 F/m～素×10-F/m………………………在本标准中.用皮法和厘米来计算电容.真空电气常款为∶有些家用额耗角正切"来表示介质测耗调数"，因为颜耗的测量结果是用损规角的正的来*的。

规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。锌或钢电极可以喷波在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，国为它门不穿透非常小的孔眼。

本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。液体绝缘材料试验池的设计对于低介质损耗因数的待测液体.电概系控醉雷要的特点县∶容易清洗、再装配（必要时）和灌注波体时不移动电极的相对位置。此外还应注意，液体需要量少，电极材料不影响液体，液体也不影响电慢材料，温度易于控制，硼点和接线能适当地屏蔽;支撑电极的地缘文架应不浸沉在液体中，还有，试验池不应含有太短的爬电距离和尖锐的边缘，否则能影响测量晶度QS-37a型高压电桥一台  此外，在一个合适的颗率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的（比较）测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足晶度要求， 构成电极的材料金属结电极用极少量的硅脂或其敏介适的低描耗粘合剂将全属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅.也可以是这些金属的合金，其厚度醉大为100 μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。

但是，智箔在较高温管状试样对管状试样而言，醉合适的电极系统将取决于它的电容率、管繁厚度、直径和所要求的测量晶度。一般情况下，电极系统应为一个内电极和一个稍为窄一些的外电极和外电极凋端的保护电极组成，外电极和保护电极之间的间隙应比管壁厚度小。对小直径和中等直径的管状试样，外表面可加三条情带或沉积金属带，中间一条用作为外电极（测量电极），两端各有一条用作保护电极。肉电极可用汞，沉积金属膜或配合较好的金属芯轴。

h---样片的厚度   单位(cm)在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在流系捷中绝缘材料的相对电容率，与真空电气常数的乘积。

0.08854为真空介电常数pF/cm需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线率联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。

因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的t，和un几乎是恒定的，且被用作L程电介质材料，然而一般的电介发材科必须在所使用的频率下测是其介质损耗因数和电容率.有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。