一、可程式冷热冲击试验箱产品简介
该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、车辆、金属、电子产品、各种电子元气件、电线、电缆等在高低快速交变环境下、检验其各性能项指标.及质量管理之用
1. GJB150.5A-2009温度冲击试验
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法温度变化试验导则
3. GJB360B-2009温度冲击试验
4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
6.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
7.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件
三、可程式冷热冲击试验箱技术参数
项目 | 说明 |
产品名称 | 冷热冲击试验箱 |
型号 | HD-E703-150T |
试样限制 | 本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验;储存腐蚀性物质试样的试验、储存生物的试验、储存强电磁发射源试样的试验及储存 |
容积、重量和尺寸 | |
标称容积 | 150 L |
内箱有效尺寸 | 500×500×600 W×H×D(mm) |
外形空间 | 约1380×1800×2030 W×H×D(mm) |
重量 | 650㎏ |
噪音 | 75db以内(离机台正面1米并离地面1.2米处测量) |
功率 | 33KW |
电流 | 45A |
温度范围 | 高温区温度范围:RT~170℃ 低温区温度范围:RT~ -75℃ 测试区温度范围:-40~ 150℃ |
温度冲击范围 | 高温: 60℃~ 150℃ 低温: -10℃ ~ -40℃
|
控制精度 | 解析精度: 0.1℃ 温度波动度: ±1℃ 分布均匀度:≤2.5℃ 温度偏差:±1℃ |
储冷时间 | RT→-60℃ ≤ 40min |
储热时间 | RT→170℃ ≤ 35min |
注:每立方米负载不大于35kg/m3钢的热容量 | |
注:以上性能指针是在环境温度为+25℃、相对湿度≤ 85%RH、无试样条件下测得的数值 |