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微波器件高加速寿命偏压老化测试系统HAST
微波器件高加速寿命偏压老化测试系统是一种用于评估微波器件在差的条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压，模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣环境，以加速器件的老化过程。
微波器件高加速寿命偏压老化测试系统HAST
·每颗器件的Vgs独立控制
·实时监测每个试验器件的Id、 Ig
·控制上、下电时序
·全过程试验数据保存于硬盘中， 可输出Excel
·试验报表和绘制全过程漏电流 IR变化曲线
适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件进行温湿度下反偏试验 。
驱动检测板 6块（1块驱动板可带2块老化板）
电源 Vds：2台 ，
Vgs：正、负电源各2台
二极Vgs电源 40路/板
试验容量 240颗（可以按要求定制工位）
老化实验板 专用耐高温高湿基板、老化测试座，接口镀金处理。
上位机 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标
聚焦超低温，低温，环境模拟，可靠性辅助测试解决方案
超过16年行业技术沉淀，掌握核心技术
多项技术，细分领域独角兽
持续的创新产品和服务，为客户提供更加满意的体验
速度：1小时内响应，24小时内提供实施方案。
专业：多名工程师与热流仪Temperature Cycling System相伴10多年。
维修：原厂标准服务。
料件：原厂品牌料件。
保障：提供交换式维修。
信息：设备档案更新与备份，做客户设备的管家。
