冷热冲击试验箱 电路芯片测试
制冷与加热系统
冷热冲击试验箱 电路芯片测试
特点
1.产品外形美观、结构合理、选材考究,具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采***之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
2.采用采用***的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,***,中,英文显示***系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转,大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。
技术参数:
1.温度范围:-20℃~150℃
2.湿度范围:20%~98%R.H
3.温度均匀度:≤±2℃(空载时)
4.湿度均匀度:+2%-3%R.H
5.温度波动度:≤±0.5℃(空载时)
6.湿度波动度:±2%
7.温度偏差:≤±2℃
8.湿度偏差:≤±2%
9.降温速率:0.7~1.0℃/min
10.升温速率:1.0~3.0℃/min
11.时间设定范围:0~999小时
12.电源电压:380V±10%
13.设备总功率:3KW~15KW