| 法定代表人 |
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经营状态 | 存续 | 天眼评分 |
评分7332  |
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| 成立日期 | |||||
| 注册资本 | 1000万人民币 | 人员规模 | 100-499人 | ||
| 实缴资本 | 800万人民币 | 工商注册号 | 420100000366723 | 组织机构代码 | 07772002-2 |
| 统一社会信用代码 | 91420100077720022F | 纳税人识别号 | 91420100077720022F | 营业期限 | |
| 企业类型 | 有限责任公司（非自然人投资或控股的法人独资） | 行业 | 研究和试验发展 | 核准日期 | |
| 参保人数 | 109 | 登记机关 | 武汉东湖新技术开发区市场监督管理局 | ||
| 曾用名 | 英文别称 | ||||
| 注册地址 | 武汉东湖新技术开发区金融港四路10号6号楼（自贸区武汉片区） | ||||
| 经营范围 | 一般项目：仪器仪表制造,仪器仪表销售,光学仪器制造,光学仪器销售,机械电气设备制造,机械电气设备销售,机械设备研发,机械设备销售,电子元器件制造,电子元器件零售,计算机软硬件及外围设备制造,工业控制计算机及系统制造,软件开发,软件销售,技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广,电子元器件与机电组件设备制造,电子元器件与机电组件设备销售,半导体器件专用设备制造,半导体器件专用设备销售,光伏设备及元器件制造,货物进出口,技术进出口,进出口代理。（除许可业务外，可自主依法经营法律法规非禁止或限制的项目） | ||||
| 序号 | 股东（发起人） | 持股比例 | 认缴出资额 | 认缴出资日期 |
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| 1 | 100% | 1000万元人民币 | 2030-12-31 |
| 序号 | 申请日 | 专利名称 | 专利类型 | 申请号 | 公开(公布)号 | 公开(公告)日 |
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| 1 | 2023-12-28 | 一种自动变角椭偏仪的角度标定装置及标定方法 | 发明专利 | CN202311845429.6 | CN117907243A | 2024-04-19 |
| 2 | 2023-12-24 | 一种光谱仪的波长校准方法 | 发明专利 | CN202311784962.6 | CN117889958A | 2024-04-16 |
| 3 | 2023-12-16 | 一种光学散射测量的仿真实验光谱制作方法 | 发明专利 | CN202311743546.1 | CN117910221A | 2024-04-19 |
| 4 | 2023-12-13 | 一种基于测量设备的波长校准与测量方法 | 发明专利 | CN202311716165.4 | CN117889759A | 2024-04-16 |
| 5 | 2023-11-30 | 一种微光斑透镜应力测量方法 | 发明专利 | CN202311643015.5 | CN117760608A | 2024-03-26 |
| 6 | 2023-11-24 | 一种光学散射测量中结构参数初值确定方法 | 发明专利 | CN202311599127.5 | CN117760321A | 2024-03-26 |
| 7 | 2023-11-22 | 一种高精度穆勒矩阵椭偏仪的控制方法和装置 | 发明专利 | CN202311578083.8 | CN117760979A | 2024-03-26 |
| 8 | 2023-11-06 | 一种样件光学参数测量方法及测量系统 | 发明专利 | CN202311485733.4 | CN117760978A | 2024-03-26 |
| 9 | 2023-09-20 | 一种基于波长修正的光学散射测量方法 | 发明专利 | CN202311220188.6 | CN117128875A | 2023-11-28 |
| 10 | 2023-09-19 | 一种零级波片特征参数测量方法 | 发明专利 | CN202311222985.8 | CN117269069A | 2023-12-22 |
| 11 | 2023-09-17 | 一种紫外到红外宽光谱椭偏测量装置及其光路调试方法 | 发明专利 | CN202311197330.X | CN117233098A | 2023-12-15 |
| 12 | 2023-08-24 | 一种薄膜测量中异常光谱识别方法 | 发明专利 | CN202311084419.5 | CN117198910A | 2023-12-08 |
| 13 | 2023-08-24 | 一种薄膜测量中正向建模快速退偏的方法及装置 | 发明专利 | CN202311079546.6 | CN117191745A | 2023-12-08 |
| 14 | 2023-08-21 | 一种膜厚测量中快速建库的方法 | 发明专利 | CN202311064746.4 | CN117194371A | 2023-12-08 |
| 15 | 2023-07-22 | 一种基于方位角灵敏度分析的光学散射测量方法 | 发明专利 | CN202310910937.1 | CN117038488A | 2023-11-10 |
| 16 | 2023-07-22 | 一种非理想椭偏系统校准方法 | 发明专利 | CN202310907919.8 | CN117030624A | 2023-11-10 |
| 17 | 2023-07-18 | 一种光学散射测量中红外低吸收材料的厚度测量方法 | 发明专利 | CN202310894729.7 | CN116753852A | 2023-09-15 |
| 18 | 2023-07-11 | 一种基于带宽反卷积的椭偏测量系统校准方法 | 发明专利 | CN202310850825.1 | CN117030623A | 2023-11-10 |
| 19 | 2023-06-30 | 椭偏仪的双旋转与高产率切换控制方法、单片机及系统 | 发明专利 | CN202310804924.6 | CN117030622A | 2023-11-10 |
| 20 | 2023-06-14 | 一种非理想椭偏系统的校准方法 | 发明专利 | CN202310713397.8 | CN117128871A | 2023-11-28 |
地址：武汉东湖新技术开发区金融港四路10号6号楼
联系人：颜猛
| 证书图片 | 名称 | 发证机构 | 生效日期 | 截止日期 |
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