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详细介绍
| 不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。 更多详细信息请浏览以下：
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广东宏展科技有限公司 |
| 参考价 | 面议 |
更新时间：2019-12-24 14:09:44浏览次数：457
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| 不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。 更多详细信息请浏览以下：
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