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显微透过率测量仪TMS-Pro

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更新时间：2022-08-31 09:08:25浏览次数：235次

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深圳东仪精工设备有限公司

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产品简介

显微透过率测量仪TMS-Pro能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/透射率及曼透射测量，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、白油墨（半透白、均光白）、弧形边IR孔(2.5D 、3D)、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光学元件等的透光率测量。

详细介绍

显微透过率测量仪TMS-Pro

用途：
能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/透射率及曼透射测量，可用于实时显示单、多点波长透过率数据及波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、白油墨（半透白、均光白）、弧形边IR孔(2.5D 、3D)、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光学元件等的透光率测量。

特点：
1、采用全角度采集全穿透式测量（积分球式）
2、采用显微同轴共聚焦技术视频对孔，使定点测量更直观更精准
3、实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长监测，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
4、检测时间毫秒级：高性能探测器，可在0.3秒内时间重现性高的测定；
5、可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。

技术规格：
测量系统：单光束
测量方式：全角度采集全穿透式测量（积分球式）
检测器: Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD、美国进口）
检出限: 0.05%
光度准确性: <0.5%（400-1000nm）与标样比
光度重复性：<0.3%
波长检测范围:380-1100nm
信噪比（全信号）:450:1
波长重复率:0.1nm
样品测试平台: X、Y轴可调
光源: 高功率卤素光源
光斑直径: ＜0.3mm(可扩展到0.1mm连续可调)
样品大小: ≥0.5mm
单次测量时间: ﹤0.3s
对焦方式: 数字相机视频对焦
物镜：10X
软件：Qspec Suite V1.0，可显示单、多点波长数据，可同时测量多孔进行综合判定，可手动和自动保存数据，自动统计所测产品批号总数、良品、不良品的数量及百分比并以报表的形式一键导出,超差报警提示，可根据用户标准校准机差;升级.
操作系统/接口：Win7, Win10/ USB2.0