精密影像仪测量 返回列表页

CH系列精密影像仪测量在测量投影仪的基础上，将工业计算方式从传统光学投影对位提升到依托于数位影像时代而产生的计算机屏幕测量，是一种运用光学原理及成像处理技术的精密测量仪器。针对于产品微小的特征位置，全自动高精度变倍镜头搭配强大的智能对焦系统，可以轻松识别边缘，快速定位产品轮廓特征，影像聚焦功能也能满足现场产品尺寸高度、平面度的检测需要。如微型特征，深槽内特征及接触易变形材料或薄件等，具有测量手段多、灵活性强、非接触等特点。

优势

自动测量，批量更快

1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程；

2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量；

3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量；

稳固移动平台结构

1.精密大理石机台，稳定性好；

2.精密线性滑轨和伺服控制系统，保证系统精度；

3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。

拍摄灵活、计算精准

1.高分辨率镜头和大视野镜头组合测量，兼顾测量效率和精度；

2.支持表面光、透射光、同轴光分段编程控制；

3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。

配件丰富，多种复合测量

1.支持触发测头和光学测头，进行高度、平面度测量，实现3D空间测量；

2.支持卡尺、高度计等外部输入，数据集中化管理；

3.支持标签打印机。

CH系列精密影像仪测量扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。可测 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等几何量。