植物冠层系统的测定一直以来都是个难题，费时费力，研究植物光合效率与其生长特点之间的关系也是难上加难，当务之急，恒美科技推出了一款能够精准测定植物冠层系统的植物冠层分析仪，那这个植物生理仪器对测定植物数据有什么优势？下面听恒美科技小编慢慢道来！
先来说说直接测量和间接测量都是如何进行的。直接测量是通过想测定所有叶片的叶面积，再计算LAI，因要剪下全部待测叶片，多数属于毁坏性测量，或至少会干扰冠层，叶片角度的分布，从而影响数据的质量，直接测量费时、费力。间接测量就是利用冠层结构与冠层内辐射与环境的相互作用这一定量耦合关系，通过植物冠层分析仪来测定植物冠层的相关数据，通过植物冠层的转移模型来推断LAI。
植物冠层分析仪是通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。因此与直接测量法相比，采用植物冠层分析仪测量冠层数据，可以避免直接测量法所造成的大规模破坏植被的缺点，而且采用仪器进行测量操作，具有方便快捷，不受时间限制，获取数据量大等优点，非常适合用于现代农业科研研究当中，因此目前植物冠层分析仪被广泛应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的 研究与教学工作当中，并在实际工作中发挥了重要的作用。
综上所述，在测定中，如果使用植物冠层分析仪等专业的测量仪器，不仅会让研究工作更省心、效率更高，而且测定的数据结果也更加准确，为农业生产提供更加科学有效的依据。
