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叶面积指数测定仪的详细介绍以及技术参数

阅读：124发布时间：2022-9-24

叶面积指数测定仪是用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了传统测量方法要一天定点多次测量的繁复工作，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。

测试原理与方法
叶面积指数测定仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。这是目前世界上各种冠层仪一致采用的原理。在上述原理下，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中较准确和较省力、省时、快捷方便的方法。

技术参数 ：
1.镜头角度：150°（或用户自选180°镜头。除用户有特殊需要，180°鱼眼镜头经
常不适合孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件，用于冠层结构分析是不适宜
和不经济的）。
2.分辨率：768×494pix
3.测量范围：天顶角由0°～75°（150°鱼眼镜头）可分割成十个区域，方位角360°亦可分割成十个区域。
4．PAR感应范围：感应光谱400～700nm。测量范围0～2700μmol/m2•s
5.分析软件：专业植物冠层分析系统软件。
6.显示和内存：7英寸笔记本，128内存以上。
7.电源：电脑电池。
8.探头尺寸：直径6cm，高10cm
9.传输接口：USB
10.工作温度：0～55℃
11.重量：1.5kg

叶面积指数测定仪以任意定义图像分析区域（天顶角可分10区，方位角可分10区）。对不同方向的冠层进行区域性分析时，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠层部分（如缺株、边行问题等）。对不同天顶角起始角和终止角的选择，可以避开不符合计算该冠层结构参数的冠层孔隙条件，通过USB接口直接将测点图像显示在计算机上，可以在野外即时观察图像，选择合理的测点，将图像存贮。

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