手机芯片半导体应力筛选快速温变试验箱 返回列表页

手机芯片半导体应力筛选快速温变试验箱结构设计*合理，配套产品和功能元器件具有水平，能够适 应长期、稳定、安全、可靠的生产需求。能够满足用户为从事上述用途的加工生产要 求，且使用、操作、维修方便，使用寿命长，造型美观，有良好的用户界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观。

手机芯片半导体应力筛选快速温变试验箱高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。最后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

1、可设定多种应力筛选(快温变率)5℃~25℃/分的试验条件。

2、满足电子设备产品应力筛选、无铅制程、MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等试验要求。

3、可执行等均温与平均温试验方式。

4、温度应力筛选试验箱ESS采用铝片验证机台负载能力(非塑料负载)。