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深圳市田野仪器有限公司
日本AET公司新推出了高频(微波)介电常数测试仪,新技术的出现对材料提出新的性能要求,包括微波介质陶瓷、PCB材料、半导体材料、手机天线材料、手机外壳材料、电磁屏蔽材料、导热散热材料等都将在5G应用中发生改变。日本AET陶瓷介电常数测试仪
日本AET陶瓷介电常数测试仪
TE 空洞共振腔型号:可测试频率范围为 10G-40GHz,适用于测量厚度小于 0.3mm 的薄膜。其介电常数准确度为 ±1%,介电损耗准确度为 ±5%,样品形状为方形片状,不同频率下对样品尺寸要求不同,如 10GHz 时需大于 50mm×50mm,20GHz 时需大于 40mm×40mm,28/40GHz 时需大于 30mm×30mm1.
同轴共振腔型号:可测试频率范围为 800M~9.4GHz,介电常数范围 1-15,准确度 ±1%,介电损耗范围 0.1-0.001,准确度 ±5%。该型号共有两种同轴共振腔,Type A 可测频点为 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz,Type B 可测频点为 1/3/5/7/9GHz23.
测量稳定性高:TE 空洞共振腔有固定的间隙插入待测样品,相比将样品夹在谐振器中的方法,测量稳定性更优,且适用于各种材料,包括软性和脆性样品1.
非破坏性测量:同轴共振腔适用于不同形状样品的非破坏性测量,操作简易,内置的反馈振荡器电路可实现精确量测123.
高损耗分辨率:TE 空洞共振腔模式具有较高的损耗分辨率,尤其适合低损耗薄膜的测量1.
日本AET陶瓷介电常数测试仪
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