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深圳市田野仪器有限公司
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全自动PA-300相位差测试仪核心突破在于将“高精度检测"与“全流程自动化"深度融合，摆脱传统设备对人工操作的依赖，尤其适配半导体300mm晶圆、车载光学玻璃等“高节拍、大批量"检测场景，实现从“样品上载"到“报告输出"的无人值守式运行。数显PA-300光程差检测仪
Photonic Lattice PA-300双折射应力仪通过光弹性效应实现纳米级应力检测，非接触测量透明材料，秒级生成全场应力云图，广泛应用于光学玻璃、半导体晶圆等领域，助力工艺优化与产品可靠性提升，数显PA-300光程差检测仪
一、核心原理：光弹性技术与光子晶体创新
光弹性双折射分析
K：材料光弹性常数（需标定）
n：双折射相位差（nm）
t：样品厚度（mm） 。
基于光弹性原理：当偏振光穿透受应力的透明材料时，材料内部应力场导致光波相位差（光程差Δn）和偏振态改变，形成干涉条纹（等差线）。通过解析相位差可反推应力值：
应力值 (MPa) = tK⋅Δn
光子晶体偏振阵列技术
技术突破：采用5μm×5μm微型偏光片组成的阵列，与CCD像素一一对应，实现全视野同步捕获偏振态变化，10秒内完成500万点数据采集。
无机械运动部件：相比传统旋转滤片式应力仪，维护成本降低60%，且避免机械磨损导致的精度衰减。
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二、硬件系统架构与性能边界
1. 核心组件与参数模块关键组件
技术参数
光源系统 三波长LED光源 523nm/543nm/575nm（可选），温漂补偿算法
成像系统 光子晶体偏振阵列+CCD相机 分辨率384×288像素（≈11万像素），采样密度5μm/点
机械结构 扩展视野机构（选配） 标准视野24×32mm~100×133mm（WPA-200），大视野版（WPA-200-L）达240×320mm
数据接口 GigE+RS232C 支持实时数据传输与电机控制
2. 性能边界
测量范围：0~3500nm相位差（覆盖PC、PMMA等高双折射材料）。
精度控制：分辨率0.001nm，重复性<1.0nm（西格玛），温漂补偿后<0.5MPa/℃。
环境适应性：工作温度23±5℃，湿度60±10% RH 。
三、软件系统：WPA-View平台功能解析
数据可视化与分析
点分析：单点相位差/应力值提取
线扫描：沿自定义路径生成应力变化曲线
区域统计：圆形/矩形区域内应力直方图与3D分布。
二维应力云图：伪彩色映射直观显示压/张应力分布区域，支持图像保存与对比。
多维度分析工具：
工程量化模块
应力换算选配：输入材料光弹性系数（如PET的 �=4.5K=4.5 GPa⁻¹）和厚度，自动输出应力值（MPa）。
批量处理：支持离线数据导入与批量生成报告（CSV/图像/动画格式）。
⚡ 四、标准化操作流程与约束条件
1. 操作流程
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全自动双折射应力仪WPA-200
2. 关键约束
样品要求：
厚度均匀，尺寸≤200×200mm（大视野版可扩展至240×320mm）
表面粗糙度Ra<0.1μm（避免光散射）。
校准要求：每日用标准相位差片验证，偏差>±3%时触发自动标定。
五、行业应用与典型案例
1. 核心场景与需求匹配
领域检测对象技术需求
WPA-200解决方案
车载透明件 HUD盖板、仪表盘罩 Δn<10nm（防彩虹纹） 全域扫描定位微应力区（精度0.001nm）
光学薄膜 偏光片/增透膜 相位差均匀性±5nm 良品率提升30%
消费电子 手机UTG盖板 CS≥800MPa（化学强化） 选配MPa换算模块
2. 合规性认证
符合ASTM C1279-05（光学应力测试）、EN 12150-1（钢化玻璃安全标准）。
六、维护要点与故障排除
1. 关键维护项
光学组件保养：每日用高纯酒精擦拭偏振阵列，避免指纹污染。
耗材管理：折射液开封后有效期≤3个月（沉淀需过滤使用）。
数据安全：禁用外部USB设备（防止加密锁驱动失效）。
2. 典型故障处理故障现象
图像模糊 样品表面划痕/折射液污染 更换样品或清洁表面
数据漂移>±5% 温度波动或校准片失效 重新标定+环境控制
通信中断（E-101） GigE接口松动 检查线缆+重启系统
💎 工程价值总结
WPA-200通过 光子晶体偏振阵列+无机械扫描设计 实现三大突破：
效率革新：3秒全域测量（传统仪器需分钟级），支持产线全检；
精度极限：0.001nm分辨率攻克车载HUD彩虹纹难题（Δn<10nm）；
成本优势：无旋转滤片结构，年维护成本降低60%。
局限警示：不适用曲面玻璃（R<500mm）及磨砂表面，强散射材料需特殊处理。
数显PA-300光程差检测仪
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