分析方法能量色散X荧光分析方法 测量元素范围镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量 同时检测元素数几十种元素可同时分析 处理器和内存CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据 含量范围ppm～99.99% 检测时间3-30秒 GPS、WIFI内置系统 检测对象固体、液体、粉末 探测器25mm2 0.3mil，SDD探测器 探测器分辨率可达139eV 激发源40KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源 视频系统高清晰摄像头 显示屏半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是640*480 检出限检出限达ppm级 安全性自带密码管理员模式，数据可随意保存 可充气系统常压充氦气系统 数据传输数字多道技术，SPI数据传输，分析，高计数率 操作环境湿度≤90% 仪器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 仪器重量1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）
手持式光谱分析仪可鉴别金属材料的牌号，广泛应用于石油，化工，电厂，天然气，煤气等行业的压力容器，管道阀门安装以及现场确认材料，也应用于废料回收，混料检验筛选，以及原材料牌号确认，尤其适合于不锈钢材料的牌号确认以及定量测量元素。
对于金属制造行业来说 ,质量控制和非常重要。材料检验是确保金属制品使用合格材质的关键。如 果使用不合格的金属合金,会引起灾难性事故,给企业 带来巨大的经济损失。手持合金成分分析仪是检测金属材料是否合格的关键性手段。有了手持式合金分析仪，质量控制以及检测人员可以 在无损的条件下,每天地检测上千个金属合金样 品。即使是普通工作人员也有把握地将大量的 样 品 测 出 完 整 而 准确 的 结 果 。测试时间是1~2秒,无需制备样品,从金属细丝到成品焊点,螺钉, 金属板 ——所有这些样品都可以被手持分析仪检测。
手持式光谱仪器具有小巧便携、操作快捷,体积很小，便携、方便野外工作，随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析，设备无需预热，可直接测试。 手持式xrf荧光光谱仪的特点是无损、检测.手持合金测试仪既可手持1-2秒对样品进行测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10秒即可进行接近实验室精度的测量，整个检测过程被测样品无任何损坏。高清摄像头检测更加 内置500万高清晰摄像头，可以随时观察被测样品的测试位置。
手持式分析仪 探测器：13mm2 电致冷Si-PIN探测器 激发源：40KV/50uA-银端窗一体化微型X光管 检测时间：10-200秒（可手持式或座立式测试） 检测对象：固体、液体、粉末 检测范围：硫(S)到铀(U)之间所有元素 可同时分析元素：多至26个元素 元素检出限：0.001%～0.01% 校正方式： 银(Ag) 性：自带模式，非人员无法使用 Data使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行 保存打印，配备海量存储卡 电 源： 两块锂电池满电可连续工作8小时
合金分析仪技术性能：
1. 真正实现在现场进行无损,,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。 2. 只需将合金分析仪直接接触待测合金表面，无须等待和花费时间即可现场确定合金等级。 3. 被检测的样品的对象可以是合金块、合金片、合金线、合金渣、合金粉。 4. 不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认。 5. 手式可延伸的探头设计能对管道内部、焊缝,等位置进行检测。 6. 可检测温度高达450℃的高温材料。 7. 可现场在库中添加,编辑,合号。 8. 快的分析速度,仅需2秒钟可识别合金元素。 9. 用户化windowsCE6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成，用户化windows CE仅保留有基本的windows与Delta系统有关的性能，使程序更具灵活性。 10. 无需借助电脑，可在现场随意，查看，放大相关元素的光谱图。 11. 防尘,防雾,防水：一体机设计，软胶与塑胶部件凸槽凹槽构造设计，使仪器具有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。 12 更高的检测精度，多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。 13 超大的图标显示，菜单式驱动，微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。 14. 电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。
手持式光谱仪系统误差的来源有： (1)标样和试样中的含量和化学组成不相同时，可能引起基体线和分析线的强度改变，从而引入误差。 (2)标样和试样的物理性能不相同时，激发的特征谱线会有差别从而产生系统误差。 (3)浇注状态的钢样与经过退火、淬火、回火、热轧、锻压状态的钢样金属组织结构不相同时，测出的数据会有所差别。 (4)未知元素谱线的重叠干扰。如熔炼过程中加入脱氧剂、除硫磷剂时，混入未知合金元素而引入系统误差。 (5)要系统误差，必须严格按照标准样品制备规定要求。为了检查系统误差，需要采用化学分析方法分析多次校对结果。
