RapidXAFS HEX射线吸收谱仪是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

发射谱XES是一种重要的分析技术，主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量，能够深入样品内部，使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。

二次电池原位池是一款为研究正极材料在充放电过程结构变化的原位透射电池原位池，实现原位XAFS、XRD、红外或者拉曼测试。

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