M1 MISTRALM1 MISTRAL镀层测厚仪

M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。

测定镀层样品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu

珠宝及合金分析：

M1 MISTRA是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品。不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K（开）表示。

该仪器具备高空间分辨率，光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形状的样品，例如zui复杂的珠宝，而无需进一步的制备，更重要的是，它的分析是无损的。支持的样品尺寸zui大可达 100x100x100 立方毫米。带有交叉十字线的视频显微镜，可以精确定位到您要测量的位置。电动 Z 型取样台允许快速聚焦。可选的 X-Y-Z 取样台甚至可以提供更大的舒适性。
M1 MISTRAL 配备了高亮度微焦点 X 射线管，确保出色的激发测量光斑，产生高荧光效应。凭借功能强大、易于使用的 XSpect 软件套件，该仪器可交付准确的量化结果，而不论是分析块状材料还是zui复杂的多层结构。