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铂悦仪器(上海)有限公司 北京办事处>> x-ray 镀层测厚仪M1 ORA
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x-ray 镀层测厚仪M1 ORA

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  • 铂悦仪器(上海)有限公司 北京办事处
  • 2015-10-27 10:02:26
  • 北京市
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【简单介绍】

M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成,分析元素范围:原子序数22号(钛)以上的所有元素。
上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析,数分钟内就可以得到结果。
样品尺寸Z大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测,采用光学显微镜进行准确定位。
采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多,分析结果越精确。可

【详细说明】

光源高性能微焦斑光管,钨靶,玻璃窗

电压、功率40KV40W

探测器大面积正比计数器1100mm2感应面积

光斑尺寸0.3-1.0mm准直管(出厂时设定)

样品观察高分辨彩色摄像系统,放大倍数20-40

样品台手动剪式样品升降台

定量分析基于标准样品的经验模型

基于基本参数法的无标准模型

电源:230V/500Hz,100W

尺寸:355×330×330mm

重量:26公斤

    
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