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Sphere-3000光学元件反射率测量仪Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率
Sphere-3000 光学元件反射率测量仪
Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪,能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
Sphere3000光学元件反射率测量仪-特点:
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域(φ60μm)
CIE颜色测定 X Y色度图,x, y, L, a, b, 饱和度,主波长等
检测速度快 高性能探测器,能在几秒内实现重现性高的测定
消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
Sphere3000光学元件反射率测量仪-技术参数
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