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深圳市云帆兴烨科技有限公司


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LET-2000D系列 半导体动态参数测试系统-云帆兴烨

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具体成交价以合同协议为准

产品型号LET-2000D

品       牌

厂商性质其他

所  在  地深圳市

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更新时间:2024-12-28 07:33:08浏览次数:48次

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产品简介

动态参数测试系统LET-2000D采用先发布的12 bit 示波器:正确反映波形的细节,并准确计算出参数

详细介绍

动态参数测试系统硬件优势:

1. 采用先发布的12 bit 示波器:正确反映波形的细节,并准确计算出参数

2. 采用先发布的光隔离、高CMRR探头系统,解决SIC/GAN的 测试难点

3. 高带宽的电压和电流探测,弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求

4.可以满足上/下管测试,避免频繁连接探头

5.电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

6.器件驱动设计支持SIC/GAN器件

7.系统带宽:>400MHz

8. 系统可以定制

动态参数测试系统软件特点:

 1.测量参数齐全:开关参数、短路参数、反向恢复参数

 2.支持器件类型多:单管/模块、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

 3.测试方式:单脉冲、多脉冲

 4. 离线数据分析:既可以在线测量,也可以记录数据离线分析

 5.测试UI符合工程师的使用习惯

 6.测量项目及器件支持扩展


系统参数:
●  测量电压:标配2000V覆盖650V,1200V,1700V器件的测试。 可升 级到10000V。
●  测量电流:标配200A,覆盖单管、及部分模块的测量。 可升级到6000A。
●  短路电流:2000A
●  测量参数:Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
●  测量项目: 开关参数、短路参数、反向恢复参数、安全工作区等
●  测量器件:单管/模块,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
●  系统带宽:350MHz、500MHz、1GHz
●  测量通道:4CH
●  双脉冲脉宽:最小20ns,150us。
●  双脉冲数:单脉冲、2-30脉冲
●  测量依据标准:IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173


LET-2000D的应用

功率半导体的来料检验
功率半导体的动态参数验证
实验室的器件评估
实验室的驱动设计改善
实验室的PCB设计评估
功率半导体的生产检验和筛选


测试项目
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关键词:PC
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