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广东皓天检测仪器有限公司
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冷热冲击试验箱 电路芯片测试
通过风道和气缸控制，实现冲击试验温度的快速变化。高温储存室通过加热器和 pid 逻辑电路精确控温，低温储存室则通过制冷系统维持低温环境，样品实验室位于两个储存室之间，通过风门切换，使高低温空气与样品实验室之间快速交替，达到温度冲击效果 。
冷热冲击试验箱 电路芯片测试
冷热冲击试验箱 电路芯片测试
特点
1.产品外形美观、结构合理、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采***之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
2.采用采用***的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,***,中，英文显示***系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
技术参数：
1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW
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