比色测温系统价格 返回列表页

　　瞬态多光谱辐射测温系统产品说明：

　　瞬态多光谱辐射光学测温系统是以普朗克热辐射理论为基础，将待测光源的辐亮度与标准光源的辐亮度进行比较，从而测得待测光源温度的一种光学仪器。是研究等离子体、冲击波物理、爆轰物理和燃料燃烧过程、发动机瞬态爆燃爆震过程的重要设备。主要用于动载荷下瞬态高温测量(1000℃～6000℃)，如燃料爆轰冲击波温度、燃料燃烧温度、材料的冲击温度、定容弹爆燃过程、卸载温度等的测量；也可用于其他瞬态超高温度的测量；也可测量高压下材料的其它参数，如测量冲击波或稀疏波到达物质界面的时间，以确定其冲击波速度及高压卸载声速；还可用于测量爆炸温度场的温度。

　　瞬态多光谱辐射测温系统技术参数：

　　1、温度范围：1000~8000℃；

　　2、温度测量精度：2%

　　3、测量距离：0.1~100m

　　4、工作波长：0.4~1.8μm

　　5、波长数：≥6 个

　　6、采样频率：~200MHz

　　7、最长测量时间：5s

　　8、数据采集系统：不低于 6 通道，可独立工作

　　9、输出：曲线数字显示和存储温度数据

　　10、响应时间：≤10ns；11)环境：工作温度-10~50℃，湿度：95%无冷凝。