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XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪

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  • 公司名称福建赫鑫科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地福州市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/8/25 9:02:27
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福建赫鑫科技有限公司注册地址位于福建省泉州市丰泽区城东街道浔美社区美仙路500号美仙山花苑8幢1904室,注册机关为泉州市工商行政管理局丰泽分局,法人代表为黄福清,经营范围包括一般项目:技术服务、技术开发、技术咨询、技术交流、技术转让、技术推广;会议及展览服务;人工智能应用软件开发;人工智能公共服务平台技术咨询服务;机械设备研发;数字内容制作服务(不含出版发行);文艺创作;影视美术道具置景服务;新材料技术研发;信息技术咨询服务;广告设计、代理;广告发布;广告发布(非广播电台、电视台、报刊出版单位);广告制作;组织文化艺术交流活动(除依法须经批准的项目外,凭营业执照依法自主开展经营活动)。
光谱仪、元素分析仪
性能优势:1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量
XAU光谱分析仪 X荧光镀层测厚仪 ROHS多层元素检测仪 产品信息

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm2(加长测量时间可小至0.01mm2)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。

4.*的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm2探测器。

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。

核心的EFP算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,多元迭代开发出EFP核心算法,结合*的光路转换的技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。









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