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微区光电流及光谱测试平台

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先锋科技是国内的光电产品系统集成商之一,总部位于香港。目前拥有员工30余人,销售工程师及技术服务工程师全部具有相关专业的大学本科及以上学历。凭借在光电领域前沿的不断探索,公司不仅为用户提供国外原厂生产的各类标准产品,而且致力于根据用户的具体要求,提供完整的系统解决方案,包括设计、生产、集成和二次开发等。公司一直持续关注光电类前沿的技术产品,从初期只与有限几个品牌有业务关系,发展到现在与几十家欧美公司长期密切合作。公司提供的产品,其涵盖面也从最初的光谱仪器单一类别,发展到现在的成像产品、各种激光器、激光测试、太赫兹、光度色度测试、光电元器件、光学元件、精密光学机械运动控制等几乎所有光电行业产品系列。公司实行不同产品系列团队负责制,力争将销售和技术岗位的工程师都培养成为各自负责产品类别的人才,实实在在地让客户体会到专业团队的专业服务!公司拥有一支具备专业知识的销售工程师团队,并始终要求相关团队成员,在销售过程中从各个领域内的用户处时刻更新自己的知识内容,保持对各应用领域内新研究内容的了解,从而能够结合仪器设备的技术特点,按照广大用户的不同应用要求,提供准确、*的各种仪器解决方案。公司的技术服务工程师积累了丰富的仪器安装、调试及故障解决经验,并不断结合科研生产仪器设备的新技术新发展及用户的要求,努力完善售后服务体系,力争做到在尽可能短的时间内为用户提供迅速有效的技术响应,使用户的各种技术服务要求尽量得到满足。针对主营产品和业务,公司每年定期安排技术服务工程师参加各类技术培训,购买相应的零配件,力争做到绝大部分的主流产品维修本地化,免除由于路程往返造成的时间、费用和工作效率上的损失。公司门的贸易专员,每年均要处理大量的贸易合同。公司商务团队,以其丰富国际贸易经验,努力协调公司内外以及公司内部各部门的行动,力争让用户在更短的时间内收到订购的仪器,享受到相应的服务。全体员工努力工作的目标是:把公司建设成为一个光电行业系统集成业务市场中,先锋科技衷心希望得到新老客户一如既往的支持!
气体分析仪,计数器,光学显微镜
Tuotuo 科技TTT-03微区光电流及光谱测试平台采用的模块化光学、机械、探测器及软件设计理念,搭载多波长/多品种激光光源、电流-电压测试仪表、光谱仪、高精度平移台以及集中控制软件,实现材料器件的微区光电响应测试及扫描成像、电致发光/光致发光等多种光谱探测、发光寿命探测等功能。
微区光电流及光谱测试平台 产品信息

微区光电流及光谱测试平台

Tuotuo 科技TTT-03微区光电流及微区光谱测试平台采用的模块化光学、机械、探测器及软件设计理念,搭载多波长/多品种激光光源、电流-电压测试仪表、光谱仪、高精度平移台以及集中控制软件,实现材料器件的微区光电响应测试及扫描成像、电致发光/光致发光等多种光谱探测、发光寿命探测等功能。

系统构成

l 成像系统

- 研究级正置或倒置显微镜

- 可配置各波段、各种灵敏度相机

- 锥光观测装置,轻松准直

- 紫外-可见--红外多种物镜

l 激光及光源

- 高稳定激光合束器可容纳多达8台激光器,电动切换

- 深紫外 - 远红外全兼容

- 自动偏振、强度控制

- 支持飞秒~纳秒脉冲激光

- 支持超连续谱、灯室等宽谱光源

l 样品台

- 高负载、高精度X-Y平移台

- 直流、RF探针支持

- 低温/变温支持

- 外加电磁场支持

l 测试

- 电学测试(光电流,I-V)

- 明暗场成像

- 发射光谱

- 各向异性测量

- TCSPC寿命测量及成像

- ......

增强款微区光电流/光谱系统

微区光电流及光谱测试平台功能与配置

显微及成像功能

l 研究级正置、倒置显微镜

l 支持明暗场成像

l 电致发光成像、光致发光成像

l 双光子/多光子荧光成像

l 二次谐波成像

l 可选配工业观察相机、高灵敏度科研级CCD相机及EMCCD相机等

l 可选配近红外/ 中远红外成像相机

l 支持标准物镜、长工作距离物镜、紫外/红外物镜

光源

l 266nm - 2μm波长,可同时配置8路光源,软件切换

l 可支持2μm - 12μm 中红外光源

l 可支持飞秒振荡器、放大器、OPA、皮秒、纳秒激光器等脉冲光源

l 可扩展脉冲LED光源

l 可支持灯室、超连续谱、ASE、SLD等宽带光源

l 全自动偏振控制

l 全自动衰减控制

光电流测试

l 微区分辨率:500nm

l 扫描分辨率:50nm

l 扫描定位精度:±100nm

l 扫描行程:100mm

l 激发波长:取决于所选配光源

l 全自动扫描测试

光谱测试

l 兼容主流掌上光谱仪及科研级高灵敏度光栅光谱仪

l PL光谱、反射光谱、单颗粒散射光谱测试

l TCSPC荧光寿命测试及扫描成像

扩展

l 低温样品室

l 偏置电磁场

测试示例

半导体器件微区光电流扫描成像

钙钛矿PL成像

MAPbI3体系强度相关PL光谱及PL寿命

金纳米颗粒单颗粒双光子荧光光谱(左)

金纳米颗粒偏振敏感双光子荧光(右)


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