表面粗糙度测量功能
• 高分辨力型 Z1 轴检出器作为标准件提供。 Z1 轴的显示分辨力为 0.0001µm( 测量范围为 8µm 时 ) 。
• X 轴内置高精度玻璃光栅尺，直接读取 X轴移动距离，在高精度准确定位下，完成间距参数的评价。
• 检出器测力有 4mN 和 0.75mN 可选。
轮廓测量功能
• Z1 轴 ( 检出器 ) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使 Z1轴测量范围增大了 10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。
• 专为 SV-C-4500 系列增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。
( 1 ) 装配双锥面测针，实现垂直方向 ( 上 / 下) 连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。
( 2 ) 测力可在 FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重。
• 的表面粗糙度 / 轮廓 FORMTRACEPAK分析程序，通过简单的操作就能进行分析并即刻输出结果。
• 表面粗糙度测试仪和轮廓测量仪结合在一起，节省安装空间。
