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光学元件面型测量仪

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先锋科技是国内的光电产品系统集成商之一,总部位于香港。目前拥有员工30余人,销售工程师及技术服务工程师全部具有相关专业的大学本科及以上学历。凭借在光电领域前沿的不断探索,公司不仅为用户提供国外原厂生产的各类标准产品,而且致力于根据用户的具体要求,提供完整的系统解决方案,包括设计、生产、集成和二次开发等。公司一直持续关注光电类前沿的技术产品,从初期只与有限几个品牌有业务关系,发展到现在与几十家欧美公司长期密切合作。公司提供的产品,其涵盖面也从最初的光谱仪器单一类别,发展到现在的成像产品、各种激光器、激光测试、太赫兹、光度色度测试、光电元器件、光学元件、精密光学机械运动控制等几乎所有光电行业产品系列。公司实行不同产品系列团队负责制,力争将销售和技术岗位的工程师都培养成为各自负责产品类别的人才,实实在在地让客户体会到专业团队的专业服务!公司拥有一支具备专业知识的销售工程师团队,并始终要求相关团队成员,在销售过程中从各个领域内的用户处时刻更新自己的知识内容,保持对各应用领域内新研究内容的了解,从而能够结合仪器设备的技术特点,按照广大用户的不同应用要求,提供准确、*的各种仪器解决方案。公司的技术服务工程师积累了丰富的仪器安装、调试及故障解决经验,并不断结合科研生产仪器设备的新技术新发展及用户的要求,努力完善售后服务体系,力争做到在尽可能短的时间内为用户提供迅速有效的技术响应,使用户的各种技术服务要求尽量得到满足。针对主营产品和业务,公司每年定期安排技术服务工程师参加各类技术培训,购买相应的零配件,力争做到绝大部分的主流产品维修本地化,免除由于路程往返造成的时间、费用和工作效率上的损失。公司门的贸易专员,每年均要处理大量的贸易合同。公司商务团队,以其丰富国际贸易经验,努力协调公司内外以及公司内部各部门的行动,力争让用户在更短的时间内收到订购的仪器,享受到相应的服务。全体员工努力工作的目标是:把公司建设成为一个光电行业系统集成业务市场中,先锋科技衷心希望得到新老客户一如既往的支持!
气体分析仪,计数器,光学显微镜
Kaleo MultiWave 光学元件面型测量仪是一台多波长工作的光学元件面形测试系统,用于替代昂贵、低效、操作复杂的干涉仪,测量光学元件的表面面形、透过波差等参数。
光学元件面型测量仪 产品信息

Kaleo MultiWave 是一台多波长工作的光学元件面形测试系统,用于替代昂贵、低效、操作复杂的干涉仪,测量光学元件的表面面形、透过波差等参数。

Kaleo MultiWave 通过单次测量即可提供完整的3-D形貌及非平面元件的曲率。所有表面质量参数尊崇ISO 10110标准。表面不规则,粗糙度以及波纹亦可测试。

Kaleo MultiWave的多波长测试功能可以在光学元件设计的工作波长进行测试,从而对光学元件基底、镀膜获得完整的评价。仪器具备和传统干涉仪同等的精度,同时具备更大的动态范围以测试复杂面形的光学元件。测试以双程模式工作,兼容透射与反射测量。

多波长干涉仪:

同一机台,多个波长

标配:625nm - 780nm - 1050nm

可选:UV - 400nm - 1100nm - 短波红外

高动态范围:

> 20um PV

高度畸变波前测试

高精度:

精度与干涉仪同等

高重复度,低噪声

高性价比的干涉仪解决方案

规范:

遵从ISO 5725 标准

兼容MetroPro 格式

兼容 ISO 10110 格式

用途:

表面面形测试

镀膜(AR,介质膜,金属膜测试......

窗片,干涉滤光片测试

透镜,非平面镜测试

应用:

光学元件研发制造

滤光片及窗片制造

空间及防务

汽车工业

激光器及其应用

光学元件面型测量仪KALEO MultiWave技术指标:

光路结构

双通路

标准配置波长

625, 780, 1050nm

可选波长

400 - 1100nmUV, IR

有效口径

130mm

可重复性 (ISO 5725)

< 5nm rms

可再造性 (ISO 5725)

<7nm rms

动态范围 (失焦), RWE

10um PV

动态范围 (失焦), TWE

200nm rms

精度 (RWE)

<80nm rms

精度 (TWE)

<20nm rms

光学元件面型测量仪KALEO MultiWave测试实例:

Fizeau干涉仪测试结果的比较

NBP-780滤光片测试。二者测量RWE的偏差小于40nm P-V

非球面镜3-D面形

单次测量,无需空白透镜。可通过扣除理想曲面得知面形残余误差,从而获知非球面镜的加工质量。

产线设备监控

通过对塑料、树脂模压光学元件的直接测试,实时获知加工效果,对模具状态、工件调整精度等作出实时评价。


关键词:模具
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