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QCX-40M金相显微镜

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实验室抛光机
技术参数高品质专业金相物镜偏光组件及DIC诺曼尔斯基微分干涉衬比系统附件偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更去清洗
QCX-40M金相显微镜 产品信息

技术参数

高品质专业金相物镜

偏光组件及DIC诺曼尔斯基微分干涉衬比系统附件

  偏振系统包括了起偏镜插板和检偏镜插板,可做偏光检测,在半导体和PCB检测中,可消除杂光,细节更去清洗。360度旋转式检偏器可以在不移动标本的情况下,方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态,在正交偏光的基础上,插入DlC棱镜,可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果,大幅提高图像对比度。

采用高性能微分干涉组件,可以将明场观察下无法检测的细微高低差,转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来,广泛用于LCD导电粒子,精密磁盘表面划痕检测等领域。







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