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热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
高低温冲击气流仪TS系列+TCU800P高温热台搭配是德B1500系列功率分析仪进行功率器件高低温测试。
设计人员现在可以使用TCU800P高低温冷热台或TS系列高低温冲击气流仪在-100℃ - +350℃宽温度范围内对 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件自动化热测试解决方案。两者都直接可与Keysight B1500系列集成，以限度地减少在将较长电缆布线到外部温度测试设备时引入的测量问题。
TCU800P高低温冷热台(RT至+250°C)和高低温冲击气流仪(-70至+225°C)满足高热和极冷测试应用的需求，实现对IGBTs 和MOSFETs 之类的power device 的温度特性测试。
TS560高低温冲击气流仪
ThermoTST TS560是—台精密的高低温冲击气流仪，具有更广泛的温度范围-70℃到＋225℃，提供了温度转换测试能 力。温度转换从-50℃到+ 125℃之间转换约10秒 ；经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。
热流仪搭配Keysight进行功率器件高低温测试
TCU800P是—种突破性的产品， 每个系统包含可定制化的热板（台）和—个独立的温度控制单元；在RT至+250℃范围内提供稳定且高精度的温度环境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配测试的温度控制平板，实现对IGBTs 和MOSFETs 之类的power device 的温度特性测试。
TCU800P的热板设计可安装于Keysight B1505A 和B1506A功率分析仪测试腔内，减少因为布线引起的测量问题；通过优化热台结构设计，降低了传统热台漏电流产生的电噪声对测试结果影响。
TCU800P是—种突破性的产品， 每个系统包含可定制化的热板（台）和—个独立的温度控制单元；在RT至+250℃范围内提供稳定且高精度的温度环境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配测试的温度控制平板，实现对IGBTs 和MOSFETs 之类的power device 的温度特性测试。
TCU800P的热板设计可安装于Keysight B1505A 和B1506A功率分析仪测试腔内，减少因为布线引起的测量问题；通过优化热台结构设计，降低了传统热台漏电流产生的电噪声对测试结果影响。
TCU800P是—种突破性的产品， 每个系统包含可定制化的热板（台）和—个独立的温度控制单元；在RT至+250℃范围内提供稳定且高精度的温度环境。可用于Keysight B1505A 和B1506A（Power Device Analyzers）搭配测试的温度控制平板，实现对IGBTs 和MOSFETs 之类的power device 的温度特性测试。
TCU800P的热板设计可安装于Keysight B1505A 和B1506A功率分析仪测试腔内，减少因为布线引起的测量问题；通过优化热台结构设计，降低了传统热台漏电流产生的电噪声对测试结果影响。
