产品特点
Signal 单波长
X荧光硅含量分析仪
- 采用MWD XRF 单波长色散X荧光技术,超低背景
- 检测下限(LOD)可达0.65 ppm @ 600 s
- 简易样品制备及仪器操作过程,检测速度快
- 无需样品损耗或转化,无需消耗气体及高温操作
- 超低维护量,较少的校准频率
- 体积小巧,可放置于任何实验室,即插即用
- 分析器内无运动部件
工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光,经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦,并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线,通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713 nm的Kα X射线荧光,并被一合适的探测器测量,然后用校准方程将其转换成被测样品中的硅含量。
符合标准
ASTM D7757-17单波长色散x射线荧光光谱法测定汽油及其相关产品中硅的标准试验方法
NB/SH/T 0993-2019 汽油及相关产品中硅含量的测定单波长色散X 射线荧光光谱法