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深圳市赛麦吉图像技术有限公司

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混叠测试图走样畸变测试卡图片

2022-12-06 10:34:50131

参考价:

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号:
厂商性质:其他
品牌:
所在地区:深圳市

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图片描述：

TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。

图片来源：

https://www.86pla.com/chanpin/1836120.html

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