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抗干扰介质损耗测试仪原理
抗干扰介质损耗测试仪原理图片
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2024-10-16 00:54:27
937
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具体成交价以合同协议为准
产品型号
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厂商性质
:
其他
品牌
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所在地区
:
扬州市
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图片描述:
变频抗干扰介质损耗测试仪原理,测量过程由微处理器控制,只要选择好合适的测量方式,数据的测量就可在微处理器控制下自动完成;一体化机型,内附标准电容和高压电源,便于现场测试,减少现场接线。
图片来源:
https://www.86pla.com/chanpin/2117630.html
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