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TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱
TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱图片
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2025-04-17 18:35:10
324
参考价
:
面议
具体成交价以合同协议为准
产品型号
:
TOF-SIMS
厂商性质
:
其他
品牌
:
所在地区
:
上海市
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图片描述：
动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集（即没有单独的蚀刻周期），同时提供高空间和质量分辨率。特点：离子束带来高分子量分
图片来源：
https://www.86pla.com/chanpin/2419073.html
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