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东莞市柳沁检测仪器有限公司

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半导体器件高低温冲击测试设备图片

2024-12-31 15:38:2178

参考价:

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号:
厂商性质:生产厂家
品牌:
所在地区:东莞市

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图片描述：

半导体器件高低温冲击测试设备均是常用于半导体行业及半导体产品、材料、配件做在瞬间下经温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化及物理伤害。

图片来源：

https://www.86pla.com/chanpin/2606999.html

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