高误差薄膜测厚仪

*，质量保障，*，一年保修！ 

    三泉中石高误差薄膜测厚仪CHY-U采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。

      仪器优势：
      （1）采用优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。
      （2）大液晶屏显示，操作简便，配备微型打印机直接打印试验报告。
      （3）另外具有电脑通信接口，通过选购软件实现数据的*性存储、查询、打印；
      （4）软件功能强大，可将成组试验数据用柱形图或列表方式进行统计，试结报告可直接在局域网或广域网中进行传输。

      主要参数：
      仪器型号：CHY-U
      生产单位：济南三泉中石实验仪器有限公司
      测量范围:0-2mm （其他量程可定制）
      分辨率 :0.1um
      测量速度:10 次/分（可调）
      测量压力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
      接触面积:50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
      进样步矩:0 ～ 1300 mm(可调)
      进样速度 :0 ～ 120 mm/s(可调)
      外形尺寸:450mm×340mm×390mm
      重量:23kg

     执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准

      应用范围：
      （1）用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量。
      （2）对金属箔片等硬质材料厚度精确测量。
      （3）接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值
      （4）通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试。

       济南三泉中石实验仪器有限公司拥有*的检测技术、包装检测设备与专业实验室，致力于为行业客户提供全面、*的包装质量控制解决方案！