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成都中冷低温科技有限公司
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HAST测试机高加速寿命试验机Burn-in system，是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。广泛用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。
（售价仅供参考）
HAST测试机高加速寿命试验机Burn-in system
满足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 规范要求
3种控制模式包含：不饱和控制(干湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制
HAST测试机高加速寿命试验机Burn-in system
是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。
是一种用于评估芯片在不同环境条件下性能和可靠性的测试方法。
一、测试目的
HAST测试Burn-in system主要用于模拟RF射频芯片在实际应用中可能遇到的高温、高湿等恶劣环境，以加速芯片的老化过程，从而更早地暴露出潜在的问题。通过测试，可以评估芯片在高温高湿环境下的稳定性、检测可能由高温高湿引起的问题，并验证芯片的可靠性。
二、测试原理
HAST测试Burn-in system通过在高温高湿环境下对RF射频芯片施加应力，模拟芯片在实际应用中可能面临的恶劣条件。高温高湿环境会引发一系列物理和化学反应，如热膨胀、热应力和腐蚀等，这些因素对芯片的性能和可靠性产生不利影响。在HAST测试Burn-in system中，芯片被暴露在高温高湿的环境中，通过加速老化过程，从而更早地暴露出潜在的问题。
Burn-in system温度范围：+105℃~+150℃
主机尺寸：970MM*710MM*1700MM(W*D*H)
温度波动度： ±0.5℃
温度显示精度： 0.1℃
湿度范围： 70~10 0% 蒸气湿度
湿度控制稳定度： ±3%RH
压力波动均匀度： ±0.1Kg
时间范围： 0 Hr～999Hr
控制器： PLC可程式彩色触摸屏控制
内桶材质： SUS316#不锈钢板
外箱材质： SECC冷钢板高温烤漆处理
使用电源： 单相 220V 20A 50/60Hz
安全保护： 超压保护，超温保护，缺水保护等
水质要求： 纯水或蒸馏水（用户自备）
聚焦超低温，低温，环境模拟，可靠性辅助测试解决方案
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速度：1小时内响应，24小时内提供实施方案。
专业：多名工程师与热流仪Temperature Cycling System相伴10多年。
维修：原厂标准服务。
料件：原厂品牌料件。
保障：提供交换式维修。
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