详细摘要： HAST高加速寿命试验机Burn-in Chamber，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速...
产品型号：所在地：成都市更新时间：2025-04-21 在线留言注塑机 挤出机 造粒机 吹膜机 吹塑机 吹瓶机 成型机 吸塑机 滚塑机 管材生产线 板材生产线 型材生产线 片材生产线 发泡设备 塑料压延机
成都中冷低温科技有限公司
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详细摘要： HAST高加速寿命试验机Burn-in Chamber，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速...
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详细摘要： （售价仅供参考）zonglen接触式芯片高低温冲击测试设备ATC860，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴...
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详细摘要： HAST测试机高加速寿命试验机Burn-in system，是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备，其目的是提高环境应力与工...
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详细摘要： （售价仅供参考）用于芯片测试的接触式高低温设备，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与...
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详细摘要： （售价仅供参考）温度强迫系统接触式高低温测试 ATC840，用于需求高温、低温、高低温进行测试/温度控制的工艺，如：材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温...
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详细摘要： （售价仅供参考）Flex TC接触式高低温设备 维修服务，接触式高低温设备是以色列Mechanical Devices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通...
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详细摘要： CAF测试系统HAST高加速老化试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包装材料、食品接触材...
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详细摘要： 高低温CHUCK，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： HAST高加速寿命试验箱Burn-in Oven，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信...
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详细摘要： zonglen半导体器件高低温测试设备chiller，半导体专用温控装置（Chiller）主要用于半导体制程中对反应腔室温度的精准控制，主要由热交换器、循环泵、...
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详细摘要： 导通电阻测试系统HAST试验箱，导通电阻测试系统可与zonglen HAST高加速老化试验箱配合使用，主要用于产品导通电阻性能验证。更好的保证您PCB检测的精度...
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详细摘要： （售价仅供参考）桌面式高低温测试仪，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高...
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详细摘要： （售价仅供参考）桌上型高低温冷热台ATC860，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与...
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详细摘要： （售价仅供参考）zonglen高低温气流温度冲击系统气流仪，温度范围-70℃到+225℃，温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换约10秒 ; ...
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详细摘要： （售价仅供参考）Thermal Inducing System高低温气流仪TS780，温度范围-80℃到+225℃，温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+12...
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详细摘要： zonglen高低温载物台Thermal CHUCK，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具...
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详细摘要： zonglen高低温载物台，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： 高低温载物台CHUCK卡盘，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： ECM-HAST CAF测试系统HAST高加速老化试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包...
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详细摘要： CAF-HAST CAF测试系统HAST高加速老化试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包...
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