详细摘要： （售价仅供参考）Thermal Inducing System高低温气流仪TS780，温度范围-80℃到+225℃，温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+12...
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成都中冷低温科技有限公司
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详细摘要： （售价仅供参考）桌面式 气流仪维修服务，接触式高低温设备是以色列Mechanical Devices公司研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件...
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详细摘要： zonglen高低温载物台Thermal CHUCK，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具...
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详细摘要： zonglen高低温载物台，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： 高低温载物台CHUCK卡盘，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： ECM-HAST CAF测试系统HAST高加速老化试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包...
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详细摘要： CAF-HAST CAF测试系统HAST高加速老化试验箱，CAF测试也叫离子迁移测试，CAF测试是一种用于评估材料中离子迁移性质的实验方法。该测试通常用于检测包...
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详细摘要： （售价仅供参考）ThermoTST ATC840桌面式快速温变试验机，接触式高低温设备是成都中冷研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合...
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详细摘要： GTC80 zonglen气体快速温变测试机，ThermoTST GC120气体制冷机采用 混合制冷剂自动制冷层叠技术，以提供超低温而不需要液氮的成本、风险或不...
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详细摘要： 高低温载物台Thermo chuck探针台卡盘，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可...
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详细摘要： HAST测试机Burn-in Chamber高加速老化测试，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等...
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详细摘要： 高低温载物台CHUCK探针台卡盘，是一种用于微电子器件测试的重要设备，也被称为探针台载物台。它可以在高低温环境下进行微电子器件的测试，因此具有高可靠性和高精度。
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详细摘要： 中冷HAST高低温试验箱非饱和度老化试验机，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试...
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详细摘要： 热流仪与液晶显示屏测量高低温系统试验，ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor,...
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详细摘要： HAST高温高压加速老化试验机，试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在...
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