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卡尔特斯光学仪器（苏州）有限公司
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KRTSMX40M金相显微镜应用于工业检测及金相分析领域，各操作机构根据人机工程学设计，大限度减轻使用疲劳
KRTS MX40M金相显微镜应用于工业检测及金相分析领域，各操作机构根据人机工程学设计，大限度减轻使用疲劳。模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。大行程移动工作平台，长工作距半复消色差物镜，图像锐利清晰，集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。
安全、稳重的机架结构设计
工业检测级显微镜镜体，低重心、高刚性、高稳定性金属机架，保证了系统的抗震能力与成像稳定性。
其前置低手位粗微调同轴调焦机构，内置100-240V宽电压变压器，可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统，长时间使用也不会使机架过热。
光学系统
采用全新设计的长工作距物镜、半复消色差技术，多层宽带镀膜技术，采用长寿命LED光源，配合多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要，可用于明场、简易偏光、微分干涉观察，专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查。
移动平台
配备了4寸带离合器的机械平台230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移动，舒适人机工程学设计，高刚性镜筒，“Y"型底座，调焦机构采用前置式操作控制，精微调同轴。
反射照明器
单颗大功率5W白色LED照明，带斜照明机构。切换至斜照明时，可以使物体表面不同材质部分呈现立体图案，增加观察的对比度与视觉效果。
U-DICR 微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。
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