CP系列中图国产台阶膜厚仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的...

中图仪器CP系列微观表面测量台阶仪采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点，主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。

SuperViewW三维白光干涉轮廓仪让轮廓测量价格更为实惠，应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。它能够以优...

中图仪器CP系列涂层薄膜测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。仪器采用了线性可变差动电容传感...

CP系列国产高精度台阶仪品牌能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。

SuperViewW白光干涉仪测量粗糙度设备以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸...

中图仪器SuperViewW1白光干涉膜厚仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率...

VT6000高分辨率共聚焦激光显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测，对大坡度的产品有更好的成像效果，在满足精度的情况下使用场景更具有兼容性。

中图仪器SuperViewW1国产白光干涉轮廓仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面...

中图仪器VT6000系列激光共聚焦光学显微镜是一款用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量的检测仪器。可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及...

CP200国产台阶膜厚仪主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电...

中图仪器CP200台阶仪接触式表面形貌测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力。它可以对微米和纳米结构进行...

SuperViewW1白光干涉轮廓仪以白光干涉技术为原理，在半导体、精密加工及微纳材料等领域，测光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面线粗糙度、金字塔型磁头夹角、...

白光干涉仪三维轮廓仪利用光学干涉原理，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点。

CP系列台阶厚度仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪，其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势...

SuperViewW1高稳定白光干涉仪应用领域广泛，操作简便，可自动聚焦测量工件获取2D，3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。广泛应用于如纳米材料、航空航天、半...

白光干涉三维形貌仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，...

中图仪器VT6000系列激光共聚焦显微镜配备了真彩相机并提供还原的3D真彩图像，对细节的展现纤毫毕现。仪器采用自研的电动鼻轮塔台，并对软件防撞设置与硬件传感器防...

中图仪器白光干涉仪以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描测量，对产品进行高品质监控时不需要取下产品或停止生产，而...