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BE-CF200系列半导体分立器件高低温参数测试系统

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更新时间：2024-10-26 16:55:37浏览次数：80次

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沈阳北博电子科技有限公司

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产品简介

将半导体分立器件，如三极管，MOS场效应管，IGBT等置于高低温试验箱内，根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内，并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。

详细介绍

设备简介：
将半导体分立器件，如三极管，MOS场效应管，IGBT等置于高低温试验箱内，根据要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内，并在对应的温度下测试压力传感器产品的电性能指标。
主要特点：
显示屏幕采用进口温湿度控制仪，P.I.D高精度控制，运行稳定，显示直观。
显示分辨率:温度：0.1℃（显示范围），时间：0.1min
感温传感器：PT100铂金电阻测温体
控制方式：热平衡调温协调控制，具有自动演算的功能，更为精确稳定。
温度稳定度，标准指标为≤1℃或±0.5℃。
温度范围：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃
之能源节约设计，省电30%且采用不伤人体与大自然之HFC环保冷媒。

注：可根据用户使用条件定制需要的规格，有关技术指标请索取产品详细说明。