行业产品

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深圳众裕康科技有限公司


  • 分辨率测试卡

    详细摘要: JIMA RT RC-04分辨率测试卡是一种用于设置和测试微焦 X 射线系统的光刻生产的测试模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之间...

    产品型号:RT RC-04所在地:深圳市更新时间:2025-06-04 在线留言

  • JIMA分辨率测试卡

    详细摘要: JIMA RT RC-05B是一款采用半导体光刻技术制作的微型分辨率测试卡。它用于校准和监控系统分辨率,确保微焦点或纳米焦点X射线检测系统获得高质量的结果。JI...

    产品型号:RT RC-05B所在地:深圳市更新时间:2025-06-03 在线留言

  • Type 39X射线分辨率测试卡

    详细摘要: Kowotest 39无损检测线对卡,Type 39X射线分辨率测试卡符合ASTM E 2445-05第5.1.3节的要求。随附符合性证书。

    产品型号:Kowotest 39所在地:深圳市更新时间:2025-06-03 在线留言

  • CT分辨率测试卡

    详细摘要: 由日本检测仪器制造商协会 (JIMA) 精心打造,为 CT 和 X 射线系统提供zui xian 进的校准。它们可提高各种分辨率下的成像精度,对于高质量的扫描和...

    产品型号:RT CT-01B所在地:深圳市更新时间:2025-06-03 在线留言

  • 空间分辨力测试卡

    详细摘要: WEK35391-2017空间分辨力测试卡,WEK35391-2017分辨力测试卡每个线对组由4块规格尺寸相同的薄片平行排列构成(薄片之间用与薄片等厚的金属隔片...

    产品型号:WEK35391-2017所在地:深圳市更新时间:2025-05-30 在线留言

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