Leitz Sirio SX/Xi 提供了标准的高速扫描和高精度测量结果,结合设备的整体动态性能,设立了工业新标准,为大叶片以及回转类零件的快速测量提供的支持。
Z向行程高达1500mm。
通过SENMATION全自动多测头自动更换系统,可以实现接触、光学非接触测头全自动切换,完成特殊材质表面的快速测量。

技术特点
产品参数
参考价 | 面议 |
Leitz Sirio SX/Xi 提供了标准的高速扫描和高精度测量结果,结合设备的整体动态性能,设立了工业新标准,为大叶片以及回转类零件的快速测量提供的支持。
Z向行程高达1500mm。
通过SENMATION全自动多测头自动更换系统,可以实现接触、光学非接触测头全自动切换,完成特殊材质表面的快速测量。
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