存储器件温度循环冲击测试用高低温一体机是专为 SSD、DRAM、NAND 闪存等存储器件设计的高精度环境模拟设备,可精准模拟 - 60℃~250℃温度冲击(温变速率 1℃/min~20℃/min),控温精度达 ±0.1℃,支持动态温变循环次数自定义(1~10,000 次),适配消费电子、汽车电子、工业控制等全场景存储器件的寿命验证。某企业应用后,存储芯片故障率预测准确率提升 40%,测试效率提高 60%。
应用场景
- 存储器件制造商研发验证
核心需求:优化芯片封装工艺,提升恶劣环境下的可靠性。
设备价值:
工艺筛选:某 NAND 闪存厂商通过 - 40℃循环测试,筛选出焊点抗疲劳寿命提升 50% 的封装方案。
- 汽车电子质量控制
核心需求:确保车载存储在 - 40℃~105℃宽温域下的稳定性。
设备价值:
车规认证:某车企通过 AEC-Q101 标准测试,存储模块故障率从 0.8% 降至 0.1%,满足 10 年 / 20 万公里使用寿命要求。