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先锋科技（香港）股份有限公司

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光学元件面型测量仪图片

2022-11-01 08:39:03346

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厂商性质:其他
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图片描述：

KaleoMultiWave光学元件面型测量仪是一台多波长工作的光学元件面形测试系统，用于替代昂贵、低效、操作复杂的干涉仪，测量光学元件的表面面形、透过波差等参数。

图片来源：

https://www.86pla.com/chanpin/1813431.html

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