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BOWMAN X射线荧光美国膜厚测试仪
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 金霖电子（香港）深圳市金东霖科技有限公司
- 2017-09-24 03:19:49
- 深圳市
- 436
【简单介绍】
【详细说明】
.博曼（美国）BA100膜厚测试仪，采用X射线测量原理，对产品进行高精度无损测量，
并且是集中业内水平的测试仪器，.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管?探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，并且在无标准片的情况下，依然能准确读数与测量。
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