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美国BOWMAN（博曼）PCB板X-RAY膜厚仪
- 公司名称：
- 更新时间：
- 所 在 地：
- 生产地址：
- 浏览次数：
- 金霖电子（香港）深圳市金东霖科技有限公司
- 2017-09-15 08:25:44
- 深圳市
- 美国
- 662
【简单介绍】
【详细说明】
美国BOWMAN X射线荧光膜厚测试仪，采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量。能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱*.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量厚度!
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