低電流/高電阻誤差產生的來源

低電流/高電阻誤差產生的來源

低電流測量易受到若干會對測量精確度造成嚴重影響的誤差來源所影響。因此所有的安培計即使是在其輸入端是空著的狀況下都會 產生些微流動的小電流。這些偏移電流可經由啟用儀器電流抑制將這部份歸零。其他誤差的來源還有外部漏電流：因此進行適當防 護與保護連接端連接是很重要。待測元件端的阻抗也會影響安培計的雜訊大小。此外，測試系統中還有其他許多外部所產生的電流會參雜到待測電流中而造成量測誤差。以下的段落會討論各種產生電流的類型以及如何將它們對測量產生的影響降低到zui小。

摩擦起電效應是由於導體與絕緣體間的摩擦造成的電荷失衡而產生，如圖一 所示。採用外部屏蔽層下有石墨塗裝的內部聚乙烯絕緣體的低雜訊電纜，可大大地減低這樣的效應。石墨提供潤滑與導電的等位柱面以等化電荷並抑制產生的電荷至zui低。

壓電電流是機械應力施加在作為絕緣端子與互聯硬體的某些晶質的材料時，會產生壓電電流。在某些塑膠上，相當多的儲存電荷導 致材料以類似壓電材料的方式表現。圖二 表示一個擁有壓電絕緣體端子的實例。為了要將這個效應產生的電流降低到zui小，可從絕 緣體移除機械應力和使用具備zui小壓電特性或zui小內儲電荷效應的絕緣材料。

 

 

污染與濕度會產生誤差電流，起因於當污染物(以離子化化學製品的形式存在)「電池」時所發生的電化學效應。例如，普遍使用的 環氧樹脂印刷電路板，若未*清除蝕刻溶劑、焊劑、油脂、鹽分(例如，指紋)或其他污染物，會於導體間產生若干奈安培的電流 (參閱圖三)。為了避免污染與濕度效應的發生，須選擇抗水分吸收的絕緣體並將濕度保持在適中的水準。而且保持所有絕緣體乾淨 清潔不受污染。

圖四概述各種電流的概估強度

 

高電阻測量
針對高電阻測量(>1GΩ)，通常於未知電阻上施加定電壓。使用串聯的安培計測量所獲得的電流，再利用歐姆定律計算(R=V/I) 得到電阻。這種施加電壓與測量電流的方法(相對於施加電流然後測量電壓的方式)較適合高電阻測量，因為高電阻經常會隨著所施加的電壓而變動。因此於測量電阻時所施加的適當且可控制的電壓就很重要。這種方法多半會需要使用低電流錶或微安培計測量低電流。因此某些許多外 多出的高電阻路徑(漏電阻)產生：而這些可經由使用乾淨、優質的高絕緣體、與降低濕度的適當防護技術來降低。

吸收的濕氣可能也會因水氣強弱影響某些絕緣體的電阻。