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武汉华工激光工程有限责任公司

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半导体衬底缺陷检测设备图片

2025-01-31 11:55:0746

参考价:

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号:
厂商性质:其他
品牌:
所在地区:武汉市

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图片描述：

面向半导体产业链上游原材料生产企业、中游晶圆生产企业，采用独立开发的光学明暗场检测系统，对半导体原片、外延片、无图形晶圆的外观缺陷进行检测。检测精度7μm检测镜头高清工业镜头整机尺寸（mm）1800*1300*2250

图片来源：

https://www.86pla.com/chanpin/2645759.html

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