产品展示
镀层膜厚测试仪——bowman
【简单介绍】
【详细说明】
镀层膜厚测试仪——bowman能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能*,而且价钱*.有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
测量技术同行15年,在同测量领域风蚤,成为膜厚仪*,精准的数据,*的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。
镀层膜厚测试仪——bowman优点:
> 采用上的、稳定性的射线源,体积小,使用寿命长,易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单,便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的*精度。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
> 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台,使用的JAVA 技术。
> 采用双放大技术和*大电离室,提升测量范围及精度。
相关产品
- 线路板膜厚测试仪—BA 100
- 线路板膜厚测试仪
- pcb板膜厚测试仪
- pcb板膜厚仪
- 膜厚测试仪—bowman博曼
- 膜厚测试仪 bowman博曼
- 金东霖_台式膜厚仪
- BA 100_台式膜厚仪
- BA 100_台式膜厚测试仪
- 台式膜厚测试仪
- 金东霖—膜厚测试仪
- BA 100—膜厚测试仪
- x荧光膜厚测试仪——博曼
- x荧光膜厚测试仪
- x荧光膜厚仪——深圳金东霖
- x荧光膜厚仪——金东霖科技
- x荧光膜厚仪——金东霖
- x荧光膜厚仪——博曼
- x荧光膜厚仪——bowman
- x荧光膜厚仪
- 半导体膜厚仪——博曼
- 半导体膜厚仪——bowman
- 半导体膜厚仪
- 电镀X-RAY膜厚仪
- 半导体膜厚测试仪——BA 100
- 半导体膜厚测试仪——博曼
- 半导体膜厚测试仪——bowman
- 半导体膜厚测试仪——金东霖科技
- 半导体膜厚测试仪
- x射线膜厚测试仪
- x-ray膜厚测试仪
- x-ray膜厚仪
- 镀金膜厚测试仪——bowman
- 镀金膜厚测试仪
- 镀层膜厚测试仪——美国
- 镀层膜厚测试仪——bowman
- 镀层膜厚测试仪——博曼
- 膜厚测试仪——bowman
- 膜厚测试仪——博曼
- 电镀膜厚测试仪——美国